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參考價	面議

產(chǎn)品詳情

三高低溫箱，冷熱沖擊試驗箱技術(shù)指標(biāo)：

機型	JS-GDCJ-100/150/200/500B
測試環(huán)境條件	環(huán)境溫度為+25℃、試驗箱內(nèi)無試樣條件下
測試方法	GB/T 5170.2-1996 溫度試驗設(shè)備
高溫室
預(yù)溫度范圍	RT～+200℃
升溫時間	RT+10℃→+200℃ ≤40min 注：升溫時間為高溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能
低溫室
預(yù)冷溫度范圍	RT~-70℃
降溫時間	RT → -70℃≤60min 注：降溫時間為低溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能
試驗室（試樣區(qū)）
試驗方式	氣動風(fēng)門切換 3 溫區(qū)沖擊試驗條件（高溫-常溫-低溫） 2 溫區(qū)沖擊試驗條件（高溫-低溫）
溫度沖擊范圍	-55℃～ +80℃
溫度波動度	±0.5℃
溫度偏差	±2.0℃
溫度恢復(fù)時間	≤5min
恢復(fù)條件	試樣：塑料封裝集成電路（均布）傳感器位置：試樣的上風(fēng)側(cè) 高溫曝露： RT~+150℃：≥30分鐘環(huán)境溫度曝露：常溫低溫曝露： RT~-55℃：≥30分鐘試樣重量：4.5kg（如需要放置重的試樣，請?zhí)崆案嬷?/span>
制冷方式	水冷

1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗

2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗

3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則

4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗

5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件

三箱高低溫沖擊箱，冷熱沖擊試驗箱用途：

三箱高低溫沖擊試驗箱試驗箱適用于考核產(chǎn)品（整機）、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗?zāi)軌蛄私庠囼灅悠芬淮位蜻B續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環(huán)次數(shù)等因素。

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