中圖儀器SuperViewW光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)一體化高精度測量粗糙度與輪廓度。它以0.1nm級分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

一、核心配置

1. 自研軟件平臺：Xtremevision Pro支持多機(jī)型自動識別，白光干涉與共聚焦模式自由切換，可直接測量微觀輪廓的距離、角度等參數(shù)。

2. 靈活硬件配置：320×200mm載物臺（負(fù)載10kg），標(biāo)配10×干涉物鏡，可選2.5×-100×鏡頭，適配不同尺寸、類型工件。

3. 安全與便捷：集成式操縱桿控制XYZ軸、速度及光源亮度，急停功能一鍵觸發(fā)，新手培訓(xùn)1天即可獨(dú)立操作。

二、產(chǎn)品特點(diǎn)

1.超高精度，數(shù)據(jù)可追溯：基于白光干涉技術(shù)，形貌重復(fù)性低至0.1nm，粗糙度RMS重復(fù)性僅0.005nm，臺階測量準(zhǔn)確度達(dá)0.3%。搭配0.1nm分辨率環(huán)境噪聲評價與氣浮隔振底座，即便在車間振動環(huán)境中，也能輸出穩(wěn)定可靠的數(shù)據(jù)，滿足ISO/ASME等300余種國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)要求。

2.高效自動化，降本增效：W1-Ultra型號在0.1nm分辨率下掃描速度高達(dá)8μm/s，單區(qū)域、多區(qū)域測量一鍵啟動，批量樣品可通過編程預(yù)設(shè)流程實(shí)現(xiàn)自動化檢測。某3C電子代工廠應(yīng)用后，檢測效率提升60%，日均處理樣品量從300件增至480件，人力成本降低30%。

3.全場景適配，無需頻繁換設(shè)備：單一掃描模式覆蓋超光滑到粗糙、鏡面到全透明/黑色材質(zhì)，10mm Z向掃描范圍搭配方形、圓形等多種自動拼接模式，支持?jǐn)?shù)千張圖像無縫拼接，輕松應(yīng)對半導(dǎo)體研磨件、3C玻璃屏、光學(xué)元件等不同類型工件的測量需求。

4.自研軟件，適配性更強(qiáng)：Xtremevision Pro第二代3D測量軟件，可自動識別中圖W/VT/WT系列機(jī)型，支持白光干涉與共聚焦模式自由切換，能直接測量微觀平面輪廓的距離、角度等參數(shù)，搭配批量分析與多格式報表導(dǎo)出功能，適配質(zhì)檢存檔與工藝優(yōu)化全流程。

三、應(yīng)用領(lǐng)域圖片

SuperViewW光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)為精密制造、科研檢測等領(lǐng)域提供高精度+高效率+高適配的3D表面測量解決方案。如需獲取行業(yè)定制化方案、產(chǎn)品演示視頻或免費(fèi)樣品測試，歡迎聯(lián)系中圖儀器。

（注：產(chǎn)品參數(shù)與配置可能因技術(shù)升級調(diào)整，具體以實(shí)際溝通為準(zhǔn)。）