ZM105.2D系列二維高速投影圖像測量儀測量原理：

二維批量尺寸測量儀的操作是基于所謂的“陰影”原理。二維高速投影尺寸測量儀ZM105.2D的主要部件是光學(xué)傳感器和控制器。

二維高速投影尺寸測量儀ZM105.2D的光學(xué)傳感器由發(fā)射端和接收端兩部分組成。來自LED的光由透鏡準直。當產(chǎn)品被放置在準直光束區(qū)域時，其陰影圖像通過接收透鏡投射到2D CMOS傳感器上。控制器根據(jù)圖像陰影邊界(物體輪廓)的位置，計算出物體所需的參數(shù)。

根據(jù)用戶創(chuàng)建的算法進行測量和公差控制。為了建立測量算法，提出了一個簡單直觀的工具——測量方案。該方案是由現(xiàn)成的塊庫形成的。各種塊的組合和它們之間的連接允許用戶創(chuàng)建幾乎無限數(shù)量的測量函數(shù)和測量不同復(fù)雜性的產(chǎn)品。測量結(jié)果可以通過各種協(xié)議(以太網(wǎng)/IP, Modbus TCP, UDP)傳輸，以及千分尺的邏輯輸出，用于控制執(zhí)行器和指示產(chǎn)品的適用性。